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HS Code 90112010 - Mikrofotografie-Mikroskope Halbleiterscheiben Reticles
Mikrofotografie-Mikroskope, optisch, mit Vorrichtungen versehen, die ihrer Beschaffenheit nach zum Handhaben und Transportieren von Halbleiterscheiben "wafers" oder Reticles besonders bestimmt sind (ausg. Stereomikroskope)
Beispiele (Keine offiziellen Angaben oder Gewährleistung)
- Wafer-Inspectionsmikroskope mit integrierten Wafer-Handlingsystemen
- Reticle-Inspektionsmikroskope mit automatischen Maskenwechslern
- Defekt-Inspektionsmikroskope für Halbleiter mit integrierten Wafer-Transportvorrichtungen
- Mikroskope für die Lithografiemaske-Inspektion mit Reticle-Manipulatoren
- Präzisionsmikroskope für die Chip-Produktion mit automatischen Wafer-Ladern
- Reticle-Inspektionsmikroskope mit automatischen Maskenwechslern
- Defekt-Inspektionsmikroskope für Halbleiter mit integrierten Wafer-Transportvorrichtungen
- Mikroskope für die Lithografiemaske-Inspektion mit Reticle-Manipulatoren
- Präzisionsmikroskope für die Chip-Produktion mit automatischen Wafer-Ladern
Code Baumstruktur / Hierarchie
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-
9011
Optische Mikroskope, einschließlich solcher für Mikrofotografie, Mikrokinematografie oder Mikroprojektion
901120
Andere Mikroskope für Mikrofotografie, Mikrokinematografie oder Mikroprojektion
90112010
Mikrofotografie-Mikroskope, mit Vorrichtungen versehen, die ihrer Beschaffenheit nach zum Handhaben und Transportieren von Halbleiterscheiben (wafers) oder Reticles besonders bestimmt sind
90112090
Andere
Handelsbeschränkungen und Maßnahmen
Kapitel 90
53 Handelsbeschränkungen und Maßnahmen
Position 9011
3 Handelsbeschränkungen und Maßnahmen
Unterposition 901120
2 Handelsbeschränkungen und Maßnahmen
Zolltarifnummer 90112010
1900-01-01
ERGA OMNES (1011)
Third country duty
Regulation 2204/99
1900-01-24
Russian Federation (RU)
Export control
Regulation 0833/14
1900-01-25
Belarus (BY)
Export control
Regulation 0765/06
Änderungen dieser Zolltarifnummer
Änderungen zugunsten zu 90112010
1997:
90112000
➜
1998:
90112010