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HS Code 90112010 - Mikrofotografie, Mikroskope, optisch
Mikrofotografie-Mikroskope, optisch, mit Vorrichtungen versehen, die ihrer Beschaffenheit nach zum Handhaben und Transportieren von Halbleiterscheiben "wafers" oder Reticles besonders bestimmt sind (ausg. Stereomikroskope)
Beispiele (Keine offiziellen Angaben oder Gewährleistung)
- Wafer-Inspektionsmikroskope (für Halbleiter)
- Reticle-Prüfmikroskope (Photomaske)
- Mask-Alignment-Mikroskope
- Defektprüfmikroskope für Wafer (mit automatisiertem Handling)
- Submikron-Inspektionssysteme (mit Wafer-Prober)
- Elektronenstrahl-Lithographie-Begleitmikroskope
- Overlay-Messmikroskope (für Wafer/Reticle)
- Reticle-Prüfmikroskope (Photomaske)
- Mask-Alignment-Mikroskope
- Defektprüfmikroskope für Wafer (mit automatisiertem Handling)
- Submikron-Inspektionssysteme (mit Wafer-Prober)
- Elektronenstrahl-Lithographie-Begleitmikroskope
- Overlay-Messmikroskope (für Wafer/Reticle)
Code Baumstruktur / Hierarchie
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-
9011
Optische Mikroskope, einschließlich solcher für Mikrofotografie, Mikrokinematografie oder Mikroprojektion
901120
Andere Mikroskope für Mikrofotografie, Mikrokinematografie oder Mikroprojektion
90112010
Mikrofotografie-Mikroskope, mit Vorrichtungen versehen, die ihrer Beschaffenheit nach zum Handhaben und Transportieren von Halbleiterscheiben (wafers) oder Reticles besonders bestimmt sind
90112090
Andere
Handelsbeschränkungen und Maßnahmen
Kapitel 90
53 Handelsbeschränkungen und Maßnahmen
Position 9011
3 Handelsbeschränkungen und Maßnahmen
Unterposition 901120
2 Handelsbeschränkungen und Maßnahmen
Zolltarifnummer 90112010
1900-01-01
ERGA OMNES (1011)
Third country duty
Regulation 2204/99
1900-01-24
Russian Federation (RU)
Export control
Regulation 0833/14
1900-01-25
Belarus (BY)
Export control
Regulation 0765/06
Änderungen dieser Zolltarifnummer
Änderungen zugunsten zu 90112010
1997:
90112000
➜
1998:
90112010