Zolltarifnummer Position 9031 - Suchergebnisse (17)

9031
Instrumente, Apparate, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen, in Kapitel 90 a.n.g.; Profilprojektoren
9031
Position
Instrumente, Apparate, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen, in Kapitel 90 a.n.g.; Profilprojektoren
90311000
Auswuchtmaschinen
90312000
Prüfstände für Motoren, Generatoren, Pumpen usw.
90314100
Instrumente, Apparate und Geräte, optisch, zum Prüfen von Halbleiterscheiben "wafers" oder Halbleiterbauelementen oder zum Prüfen von Fotomasken und Reticles für die Herstellung von Halbleiterbauelementen
903149
Unterposition
Instrumente, Apparate, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen, optisch, in Kapitel 90 a.n.g.
90314910
Profilprojektoren
90314990
Instrumente, Apparate, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen, optisch, in Kapitel 90 a.n.g.
903180
Unterposition
Instrumente, Apparate, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen, nichtoptisch, in Kapitel 90 a.n.g.
90318032
Instrumente, Apparate, Geräte und Maschinen zum Prüfen von Halbleiterscheiben "wafers" oder Halbleiterbauelementen oder zum Prüfen von Fotomasken oder Reticles für die Herstellung von Halbleiterbauelementen, elektronisch
90318034
Instrumente, Apparate, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen geometrischer Größen, elektronisch (ausg. zum Prüfen von Halbleiterscheiben "wafers" oder Halbleiterbauelementen oder zum Prüfen von Fotomasken oder Reticles für die Herstellung von Halbleiterbauelementen)
90318038
Instrumente, Apparate, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen, elektronisch, in Kapitel 90 a.n.g.
90318091
Instrumente, Apparate, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen geometrischer Größen, nichtoptisch, nichtelektronisch (ausg. Längenmessinstrumente und -geräte für den Handgebrauch)
90318098
Instrumente, Apparate, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen, nichtoptisch, nichtelektronisch, in Kapitel 90 a.n.g.
903190
Unterposition
Teile und Zubehör für Instrumente, Apparate, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen, a.n.g.
90319020
Teile und Zubehör für optische Instrumente, Apparate und Geräte zum Prüfen von Halbleiterscheiben "wafers" oder Halbleiterbauelementen oder zum Prüfen von Fotomasken und Reticles für die Herstellung von Halbleiterbauelementen oder zum Messen von Oberflächenteilchenverunreinigungen von Halbleiterscheiben "wafers", a.n.g.
90319030
Teile und Zubehör für elektronische Instrumente, Apparate, Geräte und Maschinen zum Prüfen von Halbleiterscheiben "wafers" oder Halbleiterbauelementen oder zum Prüfen von Fotomasken oder Reticles für die Herstellung von Halbleiterbauelementen, a.n.g.
90319085
Teile und Zubehör für Instrumente, Apparate, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen, a.n.g.