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Suchen Sie als erstes nach dem Material (Stahl, Holz, Leder, Papier, ...) aus dem Ihr Warengut besteht. Falls es ein komplexes Gebilde ist und das Material nicht eindeutig bestimmt werden kann, suchen Sie nach dem Einsatzzweck (Instrument, Maschine, Kleidung, Dichtung, ...). Bitte beachten Sie dass nur die ersten 6 Ziffern weltweit gültig sind (HS Code / Harmonisiertes System). Wenn Sie eine 8 oder mehrstellige Nummer von außerhalb der EU haben, gilt diese Nummer nicht unbedingt auch für die EU.



KI unterstützte Suchergebnisse

Elektroerosionswerkzeugmaschinen, numerisch gesteuert (ausg. Drahterodiermaschinen) 75.1%
845630
Unterposition
Elektroerosionswerkzeugmaschinen 75.1%
Elektroerosionswerkzeugmaschinen, nicht numerisch gesteuert 75.1%
Ultraschallwerkzeugmaschinen (ausg. Ultraschallreinigungsmaschinen sowie Materielprüfmaschinen) 74.9%
8456
Position
Werkzeugmaschinen zum Abtragen von Stoffen aller Art durch Laser-, Licht- oder anderen Photonenstrahl, Ultraschall, Elektroerosion, elektrochemische Verfahren oder Elektronen-, Ionen- oder Plasmastrahl, Wasserstrahlschneidemaschinen (ausg. Apparate zum Reinigen mit Ultraschall, Löt- und Schweißmaschinen, auch wenn sie zum Schneiden verwendbar sind sowie Materialprüfmaschinen) 74.5%
Drahterodiermaschinen, numerisch gesteuert 74.3%
Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben "wafers" oder Halbleiterbauelementen, auch integrierter Schaltungen 74.6%
Teile und Zubehör für Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen elektrischer Größen oder zum Messen oder zum Nachweis von ionisierenden Strahlen, a.n.g. 74.5%
9030
Position
Oszilloskope, Spektralanalysatoren und andere Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen elektrischer Grössen; Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder zum Nachweis von Alpha-, Beta-, Gamma-, Röntgenstrahlen, kosmischen oder anderen ionisierenden Strahlen 74.5%
Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder zum Nachweis von ionisierenden Strahlen 74.4%
Oszilloskope und Oszillografen 74.3%
Teile für Wafer prober der Unterpos. <a href="/2026/85369020">85369020</a>, a.n.g. (ausg. Baugruppen "zusammengesetzte elektronische Schaltungen") 74.5%
Baugruppen "zusammengesetzte elektronische Schaltungen", für Wafer prober der Unterpos. <a href="/2026/85369020">85369020</a> 74.5%
Instrumente, Apparate und Geräte, optisch, zum Prüfen von Halbleiterscheiben "wafers" oder Halbleiterbauelementen oder zum Prüfen von Fotomasken und Reticles für die Herstellung von Halbleiterbauelementen 74.5%
9031
Position
Instrumente, Apparate, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen, in Kapitel 90 a.n.g.; Profilprojektoren 74.4%
Instrumente, Apparate, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen geometrischer Größen, in Kapitel 90 a.n.g. 74.2%
Teile und Zubehör für Röntgenapparate und -geräte 74.5%
Apparate und Geräte, die Alpha-, Beta-, Gamma- oder andere ionisierende Strahlen verwenden, für medizinische, chirurgische, zahnärztliche oder tierärztliche Zwecke 74.2%
Transfermaschinen zum Bearbeiten von Metallen, numerisch gesteuert 74.3%
8457
Position
Bearbeitungszentren, Mehrwegemaschinen und Transfermaschinen, zum Bearbeiten von Metallen 74.1%